如何用MAT分析Android程序的內(nèi)存泄露

1、打開Android Studio Memory Profiler，反復(fù)打開關(guān)閉頁面多次，點擊GC，如果內(nèi)存沒有恢復(fù)到之前的數(shù)值，則可能發(fā)生了內(nèi)存泄露。

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2、通常我們可以借助MAT、LeakCanary等工具來檢測應(yīng)用程序是否存在內(nèi)存泄漏。 MAT是一款強大的內(nèi)存分析工具，功能繁多而復(fù)雜。

3、使用Android Studio，Android Device Monitor 配合Eclipse的MAT(Memory Analyzer)工具來分析android內(nèi)存泄露。新建一個Android 測試應(yīng)用。填寫好應(yīng)用的名稱，以及保存位置后，直接下一步到最后點擊“Finish”。

4、使用對象查詢語言可以快速定位發(fā)生泄漏的Activity及Fragment 使用 MAT 來分析內(nèi)存問題，效率比較低，為了能迅速發(fā)現(xiàn)內(nèi)存泄漏，Square 公司基于 MAT 開源了 LeakCanary ，LeakCanary 是一個內(nèi)存泄漏檢測框架。

Android內(nèi)存優(yōu)化三:內(nèi)存泄漏檢測與監(jiān)控

使用Memory Profiler 分析內(nèi)存可以查看guan 網(wǎng)： 使用內(nèi)存性能分析器查看應(yīng)用的內(nèi)存使用情況 對于內(nèi)存泄漏問題，Memory Profiler 只能提供一個簡單的分析，不能夠確認(rèn)具體發(fā)生問題的地方。

了解Android的內(nèi)存管理機制在處理內(nèi)存泄漏問題之前，我們首先要了解一下Android的內(nèi)存管理機制，只有了解了這一點，我們才能夠更加有效地進(jìn)行排查和解決。

MAT工具是一個Eclipse 插件，同時也有單獨的RCP 客戶端，MAT工具的解析文件是.hprof，這個文件存放了某進(jìn)程的內(nèi)存快照。MAT工具定位內(nèi)存泄漏具體位置的方法如下：① 生成.hprof文件。

android studio 中Memory Profile的用法 接入LeakCanary，監(jiān)控所有Activity和Fragment的釋放，App所有功能跑一遍，觀察是否有抓到內(nèi)存泄露的地方，分析引用鏈找到并解決問題，如此反復(fù)，直到LeakCanary檢查不到內(nèi)存泄露。

Android應(yīng)用性能測試之CPU和內(nèi)存實時監(jiān)測

System Monitor： System Monitor是一款全面的系統(tǒng)監(jiān)測工具，它可以顯示CPU、內(nèi)存、網(wǎng)絡(luò)和存儲的使用情況。你可以通過它來實時監(jiān)測和查看CPU和內(nèi)存的使用率。CPU Monitor： CPU Monitor是專注于監(jiān)測CPU使用情況的應(yīng)用程序。

CPU-Z：CPU-Z 可以實時監(jiān)測 CPU 溫度、電壓、時鐘頻率等參數(shù)。它可以監(jiān)測 CPU 、內(nèi)存和電池信息，同時還具有詳細(xì)的硬件信息顯示功能。

CPU-Z：這是一款免費的軟件，可以實時檢測安卓設(shè)備的CPU、GPU、運行內(nèi)存和電池等硬件信息，并顯示相應(yīng)的規(guī)格和頻率。同時，它還支持溫度監(jiān)測和高級監(jiān)控功能。

APT是一個eclipse插件，可以實時監(jiān)控Android手機上多個應(yīng)用的CPU、內(nèi)存數(shù)據(jù)曲線，并保存數(shù)據(jù)；另外還支持自動獲取內(nèi)存快照、PMAP文件分析等，方便開發(fā)人員自測或者測試人員完成性能測試，快速發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品問題。

安卓電腦的內(nèi)存使用率和cpu使用率的正常情況是取決于電腦的硬件配置。一般來說，內(nèi)存使用率正常情況下應(yīng)該在80％左右，cpu使用率正常情況下應(yīng)該在50％以下。

安兔兔 安兔兔評測專門給iOS和Android設(shè)備的手機、平板電腦評分的專業(yè)軟件。它能夠一鍵完成UE測試(多任務(wù)與虛擬機)、CPU整體性能測試、RAM內(nèi)存測試測試、2D/3D圖形性能測試以及數(shù)據(jù)存儲I/O的性能檢測。

怎么分析android代碼是否存在內(nèi)存泄露

Android studio是沒有自帶這個工具的，不能分析內(nèi)存泄露。需要用已經(jīng)ROOT過的真機來獲取APP運行過程中的內(nèi)存信息，這需要獲取該手機的最高權(quán)限。

android studio下面會有一個android monitor區(qū)域，里面會有當(dāng)前內(nèi)存，cpu的使用情況。如果你想詳細(xì)的查看到底哪些數(shù)據(jù)發(fā)生了泄露，這要配合mat工具來實現(xiàn)，很簡單的，你直接百度搜過“android studio怎么分析內(nèi)存泄露”。

開發(fā)Android應(yīng)用時，經(jīng)常會遇到內(nèi)存溢出，內(nèi)存泄露問題，這里介紹一種方法來檢測內(nèi)存泄露。使用Android Studio，Android Device Monitor 配合Eclipse的MAT(Memory nalyzer)工具來分析android內(nèi)存泄露。

最簡單的調(diào)查應(yīng)用內(nèi)存使用情況的地方就是Dalvik日志信息。可以在logcat（輸出信息可以在Device Monitor或者IDE中查看到，例如Eclipse和Android Studio）中找到這些日志信息。

如果要避免這個問題，還是要從代碼上入手，良好的編碼習(xí)慣和規(guī)范，是避免錯誤的不二法門。一般我們常說的內(nèi)存泄漏是指堆內(nèi)存的泄漏。

此時就要進(jìn)入代碼分析此時antiRadiationUtil的引用持有是否合理（如果antiRadiationUtil持有了MainActivity的context導(dǎo)致節(jié)目退出后MainActivity無法銷毀，那一般都屬于內(nèi)存泄露了）。

Android內(nèi)存抖動——檢測、常見場景、處理

源自Android文檔中的 Memory churn 一詞，中文翻譯為內(nèi)存抖動。指快速頻繁的創(chuàng)建對象從而產(chǎn)生的性能問題。引用Android文檔原文：Java內(nèi)存泄漏的根本原因是 長生命周期 的對象持有 短生命周期 對象的引用就很可能發(fā)生內(nèi)存泄漏。

內(nèi)存抖動在Android Profile中表現(xiàn)為：在Profiler的Memory中點擊Recod(AS 3)，錄制一段內(nèi)存，然后在stop。

我們利用工具：Hierarchy Viewer進(jìn)行檢測，優(yōu)化思想是：查看自己的布局，層次是否很深以及渲染比較耗時，然后想辦法能否減少層級以及優(yōu)化每一個View的渲染時間。

Memory Monitor是一款使用非常簡單的圖形化工具，可以很好地監(jiān)控系統(tǒng)或應(yīng)用的內(nèi)存使用情況。可以快速發(fā)現(xiàn)內(nèi)存抖動、大內(nèi)存分配，甚至由于GC導(dǎo)致的卡頓。

打開日志控制臺，有一個標(biāo)簽Memory ，我們可以在這個界面分析當(dāng)前程序使用的內(nèi)存情況。運行要監(jiān)控的程序（APP）后，打開Android Monitor控制臺窗口，可以看到Memory控制臺。

網(wǎng)站名稱：內(nèi)存分析android 內(nèi)存分析go pp gif
標(biāo)題路徑：http://aaarwkj.com/article26/didsgjg.html

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